*模體為DR成像系統(tǒng)的圖像性能測試專用

*內(nèi)有高對比度分辨率、低對比度分辨率、動態(tài)范圍、鉛尺等圖像性能測試模塊

*配套25mm厚，99.5%以上純度的鋁衰減模塊

*模體內(nèi)的空間分辨率測試卡：為0.1mmPb的分辨率線對卡，分辨率為0.6 ~ 5.0 Lp/mm，詳情見下

可用于數(shù)字X射線攝影圖像性能指標(biāo)評價的測試體模

多功能測試卡由下面幾個部件構(gòu)成，總厚度達(dá)18.5mm

1) 基體銅板，其厚度為1.5mm，邊長為 300mm×300mm
2) 動態(tài)范圍的測量銅階楔(見圖 B.1 中 No.2)，其外徑為 150mm，內(nèi)徑為 110mm，由 17 個階梯組成，每一階梯銅厚度在表 B.1 中規(guī)定。表中銅厚度包括上述銅板的厚度(1.5mm)，階梯 1 到階梯 8比基體銅板薄，階梯10到階梯 17 比基體銅板厚。

3.當(dāng) X射線管電壓設(shè)置在 75kV和使用 25mm Al 衰減體時，則每一個銅階楔相對于第 9階梯的動態(tài)范圍參考值見表 B.2。

4.空間分辨率測試卡：由 100μm （0.1mmPb）厚的鉛箔和空間分辨率從 0.6LP/mm 到5LP/mm 的線對組成，可測分辨率為：0.6，0.7，0.8，0.9，1.0，1.2，1.4，1.6，1.8，2.0，2.2，2.5，2.8，3.1，3.4，3.7，4.0，4.5，4.6，5.0LP/mm。
5.低對比度物體組件，其直徑為10mm 深度不同的孔(見圖B.1中 No.3) ，用于檢驗低對比度分辨率，當(dāng)X射線管電壓為 75kV 和使用 25mm Al衰減體時，孔的深度和對比度見表 B.3

6.均勻性測試區(qū)域，銅板測試區(qū)域，其厚度偏差為+/-0.05mm。
7.影像接收面刻度尺，單位為 cm。

8.配套的衰減體是一個25mm厚的鋁板，其純度不低于99.5%，放置在盡可能靠近限束器出口處。